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  • 日本Microphase 薄膜热应力测试系统Thermal Scan  
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日本Microphase 薄膜热应力测试系统Thermal Scan  

  • 该设备已经广泛被全球著名高等学府(如:Harvard University 2套,Stanford University,Johns Hopkins University,Brown University 2套,Karlsruhe Research Center,Max Planck Institute,西安交通大学等)、半导体制和微电子造商(如IBM.,Seagate Research Center,Phillips Semiconductor,NEC,Nissan ARC,Nichia Glass Corporation)等所采用。

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日本Microphase 薄膜热应力测试系统Thermal Scan  (图1)